上海仪电/上分UV760CRT双光束紫外可见分光光度计-来宝商城

产品
详情
资料
评价

上海仪电/上分UV760CRT双光束紫外可见分光光度计吸收日本岛津公司先进技术,并可打印图文合一的分析报告

价格登录查看

型号双光束760CRT >

品牌

仪电|上分

库存

批准文号

货期

现货

安装

光谱带宽(
- 可调
)
波长准确度(
- ±0.3nm以下
)
光谱扫描(
- 有
)
扫描软件(
- 标配
)

询价热线：

15628787115 2355938969

产品介绍

6b3d2d87f9fd7754558d64b1b0487338_201511300423260498.jpg

760CRT型双光束紫外可见分光光度计是引进吸收日本岛津公司先进技术基础上推出的自动记录分光光度计，软件基于Windows98平台，界面友好、美观，操作简单，通过打印机可打印出图文合一的分析报告，并可将图谱数据或测试数据传送Execl进行处理，可将图谱贴至Word中发表，仪器具有波长扫描、时间扫描、定量分析、定波长测试、多波长测试等功能，优异的性能.
适合用于生物化学、环境保护、化学工业等实验室的日常分析和研究工作的需要。

主要特点：
● 采用全息闪耀光栅，双光束C-T式光路结构，高分辨率，低杂散光，测光精度高，稳定性能好。
● 微机控制，自动记录，打印机可在一张记录纸上打印出光谱图、测试数据及操作参数。
● 光源自动转换（可在294nm～364nm间任意设定）
● 功能极强的光谱处理能力。

软件特点：
● 信息存贮容量大，保存方便。
● 软件提供四个图谱通道临时贮存图谱，可进行覆盖和重叠方式的透过率、吸光度、吸收度对数和能量图谱扫描，透过率和吸光度的图谱可轻松地相互转换，对图谱可进行图谱和图谱、图谱和系数的四则运算、导数运算。
● 图谱的峰谷检测、缩放轻松自如。
● 时间扫描可进行动力学研究。
● 定量分析提供了浓度线性回归法、方法中提供了待定系数法和系数输入法可进行曲线拟合及异常点剔除、2λ和3λ的测定，3λ提供了自动的波长设定并提供10组波长数据供用户选择使用。
● 软件提供了定波长和多波长测试，并可对测试数据进行注释，对同一样品多用户的测试提供了方便，多波长测试则可进行多达20个点波长的测试。
● 可轻松地将贮存图谱的参数设置为仪器当前测试条件。
● 打印机可进行参数与图谱打印、参数与图谱及数据打印、参数与数据打印和工作曲线的打印。

技术参数

序号	技术指标：
1	● 测光方式：双光束C-T式光路结构，全息闪耀光栅分光器，光电倍增管检测。
2	● 波长范围：190nm～900nm
3	● 分辩率：优于0.15nm
4	● 光谱带宽：0.08nm～5nm间隔0.01nm连续可调
5	● 波长最大允许误差：±0.3nm（内装自动波长校正装置）
6	● 波长重复性：0.2nm
7	● 杂散光：≤0.08%（T）（以NaI溶液在220nm处）
8	● 透射比最大允许误差：±0.3%τ（以NBS930D测定）
9	● 透射比重复性：0.2%（T）
10	● 扫描速度：快、中、慢
11	● 稳定性：≤±0.004A/30min
12	● 噪声：±0.3%（100%处） ±0.1%（0%处）